基于C8051F单片机的温度测试仪自校准方法研究

摘要：

　　温度测试仪随着使用时间的增长，元器件的老化，其测量精度会逐渐降低，一般采用调节硬件电路或更改程序参数的方法进行校准，校准较为复杂。本文采用以C8051F单片机为核心的电路，设计了一种自校准方法，智能程度较高，校准精度较高，简化了校准过程。

关键词： 温度测试仪 自校准方法 单片机 系统设计

作者: Yang Xiantao 杨显涛 Hen Ganhui 何干辉 Chen Qingsong 陈青松 Liu Xibao 刘希宝

作者单位: The 704st Institute of China Aerospace Science and Technology Corporation, Beijing 100076, China 航天科技集团公司第704研究所 北京100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年中国仪器仪表学术、产业大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 107-109

在线出版日期: 2012-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）