光谱技术在未知物剖析上的应用

摘要：

　　未知物的结构的表征和和定量分析在新材料的研发、生产工艺的改进及环境保护上有重要作用。光谱技术作为一种重要的物质的结构鉴定手段在未知物的剖析上有广泛的应用，如产品结构和成分的剖析、未知杂质的定性定量分析、产品工艺的改性及质量控制及产品安全性检测。红外(IR)和紫外吸收光谱(UV)可以对复杂未知物中有机组分的化学成分的定性和定量分析；荧光光谱(XRF)、原子吸收光谱(AAS)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP)、X射线衍射谱(XRD)对复杂未知物中无机和金属材料及痕量元素的分析和检测。详细介绍了北京市理化分析测试中心材料分析研究实验室近年来在未知物的剖析上建立起来的各种光谱技术的技术方法及其应用。

关键词： 复合材料 分析化学 光谱技术 未知物剖析

作者: CHENG Jing 程静 ZHOU Ming-qiang 周明强 HU Guang-hui 胡光辉 ZHANG Mei 张梅 LIU Wei-li 刘伟丽

作者单位: Beijing Centre of Physical and Chemical Analysis, Beijing Academy of Sciences and Technology, Beijin 北京市科学技术研究院-北京市理化分析测试中心,北京 100089

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国分子光谱学学术会议

会议地点: 广东韶关

会议语种:中文

页码: 337-338

在线出版日期: 2012-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）