药用蒙脱石散杂质相含量的X射线衍射全谱定量分析法

摘要：

　　本研究采用Ufer处理乱层结构的方法，用全谱拟合方法解决药用蒙脱石中杂质相含量检测问题。研究表明，Ufer的方法虽然原理难懂，实际应用计算时间较长，分析蒙脱石这类乱层状结构化合物中杂质相含量还是最可靠的方法。

关键词： 药用蒙脱石 杂质相含量 定量分析 X射线衍射

作者: 陈文波 迟玉峰 郑海辉 吕光烈

作者单位: 浙江海力生药业股份有限公司 浙江大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 317-325

在线出版日期: 2012-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）