材料光谱发射率测量技术研究进展

摘要：

　　综述了国内外计量机构材料光谱发射率测量技术的研究进展。通过对不同测量系统的测试仪器、样品温度测量方法、测量范围及其测量不确定度的详细比较，概括和总结了影响发射率测量准确度的主要因素及值得借鉴的改善方法和建议，展望了材料光谱发射率测量技术的发展趋势。

关键词： 材料光谱发射率 测量技术 仪器设备 不确定度分析

作者: ZHANG Shu-kun 张术坤 CAI Jing 蔡静 Yang Yong-jun 杨永军

作者单位: Changcheng Institute of Metrology&Measurement,Beijing 100095,China 中航工业北京长城计量测试技术研究所,北京100095 Changcheng Institute of Metrology&Measurement,Beijing 100095,China; Beijing University of Aeronautic 中航工业北京长城计量测试技术研究所,北京100095;北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院,北京100191

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国温度测量与控制技术学术交流会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 232-239

在线出版日期: 2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）