基于傅立叶光谱仪的材料光谱发射率测量装置

摘要：

　　论述了材料发射率测量在航空、航天、能源及国民经济各领域中的作用和意义,综述了国内外材料发射率测量技术的研究发展现状,分析了各种测量方法的优缺点及适用范围,而且指出发射率测量技术的目前存在的问题及今后发展趋势.介绍了北京航天计量测试技术研究所基于傅立叶光谱仪建立的一套测量材料光谱发射率的装置.利用装置在温度范围为50～1000℃,光谱范围1.5～25μm内测量航天复合材料样品的光谱发射率,并利用标准黑体对测量装置进行了线性度的验证.

关键词： 傅立叶光谱仪 材料光谱发射率 测量装置 线性度

作者: Zhang Junqi 张俊祺 Wang Wenge 王文革 Sun Futao 孙富韬

作者单位: Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology, Beijing 100076,China 北京航天计量测试技术研究所,北京100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国温度测量与控制技术学术交流会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 256-261

在线出版日期: 2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）