LED器件的质量检测及耐久性试验

摘要：

　　本文提出了一种LED器件质量特征参数的检测方法。引入电光转换效率和光功率保持率作为LED器件的质量特征参数；以芯片尺寸和电流密度来规范LED器件质量的检测条件；在进行耐久性试验之前，为了剔除早期失效的器件，给出了筛选方法，介绍了与LED器件可靠性相关的耐久性试验方法，并通过耐久性试验给出了获取LED器件的光通维持寿命的方法。

关键词： 发光二极管器件 产品质量 检测技术 耐久性试验 光通维持寿命

作者: 安国雨 赵敏 张万生 徐立生

作者单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051 国家半导体器件质量监督检验中心,石家庄050051

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国LED产业发展与技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 218-220

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）