芯片外观缺陷对LED器件老化可靠性的影响
LED芯片缺陷会对芯片可靠性产生影响,芯片可靠性决定LED器件的质量.本文主要研究LED芯片制作过程中的外观缺陷对LED可靠性的影响,选取了具有外观缺陷(如反射镜不完整、电极外展线缺陷、芯片划裂伤)的芯片,封装成LED管子,在常温下用500mA 点亮 500h.通过实验数据,分析了芯片的各类外观缺陷对LED可靠性的影响程度,发现背镜不完整芯片制作的LED管子,老化后光强衰减速度较快,500h后平均光强衰减至初始值的83.3％；划裂伤的芯片制作的LED管子,老化前后反向漏电流平均值由0.004uA增加至0.014uA,增速最快；电极外展线细及电极外展划伤的芯片制作的LED管子的可靠性与正常芯片基本无差别.文章研究结果为客户评判LED芯片产品性能提供一定借鉴依据.
发光二极管器件 产品质量 外观缺陷 芯片可靠性
蔺福合 姚丙猛 沈燕 王成新 徐现刚
山东华光光电子有限公司,济南250101 山东华光光电子有限公司,济南250101;山东大学,济南250100
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221-224
2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）