一种新的测试优选算法

摘要：

　　测试性日益成为现代电子产品的重要性能指标，必须在系统研制初期进行测试性设计，从而在故障诊断过程中，以最少的测试费用、在最短的时间内确定故障位置。文章根据贪婪策略提出了一种基于间接墒的测试优选算法。在故障隔离策略选择测试中，采用间接墒和贪婪策略想结合的方法进行测试优选。实验验证结果表明，该算法实现简单、能够在较短的时间内检测并隔离故障。

关键词： 电子产品 故障诊断 测试优选算法 性能指标

作者: FANG Jinlong 房金龙 CHEN Shengjian 陈圣俭 ZHANG Kuishan 张奎山 WANG Dong 王栋

作者单位: The academy of armored forces engineering, Beijing 100072, China 装甲兵工程学院控制工程系,北京100072 The academy of armored forces engineering, Beijing 100072, China;China astronaut research and traini 装甲兵工程学院控制工程系,北京100072;中国航天员科研训练中心,北京100094

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会信息论分会2009年研究生学术交流会

会议地点: 三亚

会议语种:中文

页码: 21-24

在线出版日期: 2010-03-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）