会议专题

双直径激光扫描检测系统研究

  在单向激光扫描检测技术的基础之上,提出了一种双直径激光扫描检测系统,采用激光扫描检测技术与特殊光学系统相结合,用准直半导体激光光束对被测工件径向某一截面的两个垂直方向同时扫描,将携带垂直方向被测量信息的光束,经高速光电变换和电子学数据处理可得到回转体工件两个垂直方向的径向尺寸测量结果。它具有高速、高精度和非接触自动测量等特点。本文论述了双直径激光扫描测量系统的测量原理,建立了系统的数学模型,并对系统的测量误差进行了分析,为系统的设计和提高系统测量精度奠定了基础。

激光扫描 光学系统 检测系统 准直半导体激光光束 非接触自动测量

崔宇 隋鑫 杨坤

中国人民解放军装甲兵技术学院控制工程系 长春 130117

国内会议

吉林省第五届科学技术学术年会

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120-122

2008-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)