载流X荧光品位分析仪的研究与应用现状

摘要：

载流X荧光品位分析仪用于在线测量矿浆多种金属品位,是选矿行业的大型关键测量设备,对该设备的分类方法、国内外的研究与应用现状等进行了较为详细的描述,并介绍了该设备的主流产品.同时对载流X荧光品位分析仪的发展趋势和国内研究进展进行了介绍.

关键词： 品位分析 X荧光 载流

作者: 赵建军 曾荣杰

作者单位: 北京矿冶研究总院 北京 100044

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年全国选矿学术会议

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 389-392

在线出版日期: 2009-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）