基于动态重配置的SEU故障检测与修复系统的设计

摘要：

在轨、基于空间的、外太空的应用必须考虑高能带电粒子(射线)对电子设备可能造成的影响,特殊地,单粒子翻转( single event upsets,SEU)可能改变静态存储元件(锁存器,触发器,或RAM单元)的逻辑状态.本文提出一种基于动态重配置的SEU故障检测与修复系统的设计方案,能实时检测目标芯片配置内容是否发生SEU故障,并对故障进行修复,回读和部分重配置允许系统检测并修复配置存储器中的SEU,而不打断其操作或FPGA的完全重配置.

关键词： single-event upset dynamic reconfiguration fault detection fault injection

作者: 齐鑫 冯文全

作者单位: 北京航空航天大学电子信息工程学院,北京 100191

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国通信学会第六届学术年会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 82-87

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）