抗单粒子闩锁的标准单元设计

摘要：

单粒子闩锁SEL(Single Event Latchup)是最具破坏性的单粒子效应之一.本文介绍了SEL发生的原理,分析了抗SEL的关键技术,在此基础上,在商用0.18μm,1.8V CMOS工艺下对标准单元进行了抗单粒子闩锁加固设计,提出了一种特殊的保护环结构.Spice模拟结果表明,加固后的功耗开销在21％以内,性能开销在10％以内,达到了预期的效果.

关键词： SEL 保护环 开销

作者: 方益 陈吉华 梁斌

作者单位: 国防科技大学计算机学院 长沙 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届计算机工程与工艺会议(NCCET09’)

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 309-312

在线出版日期: 2009-08-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）