壁损耗对开孔矩形腔体电磁屏蔽效能的影响研究

摘要：

　　运用边界阻抗微扰法，导出了有损矩形波导传播常数的解析公式。该公式在高于截止频率区域与功率损耗方法给出的结果一致，并可适用于功率损耗方法不能覆盖的截止附近及以下频率区域。基于该解析公式，建立了分析平面波照射下壁损耗影响开孔矩形腔体电磁屏蔽效能的等效电路模型。并利用有限元软件Ansoft HFSS模拟验证了计算结果。计算结果表明，适当的壁损耗可以消除谐振频率附近的弱(负)屏蔽效应。研究结果对改善腔体屏蔽设计有指导意义。

关键词： 矩形腔体 电磁屏蔽 等效电路模型 谐振效应 传播常数

作者: Zhu Hongzhao 朱弘钊 Jiao Chongqing 焦重庆

作者单位: Beijing Key Laboratory of High Voltage & EMC, North China Electric Power University,Beijing 102206 高电压与电磁兼容北京市重点实验室,华北电力大学,北京102206 Beijing Key Laboratory of High Voltage & EMC, North China Electric Power University,Beijing 102206;S 高电压与电磁兼容北京市重点实验室,华北电力大学,北京102206;新能源电力系统国家重点实验室,华北电力大学,北京102206

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电机工程学会电磁干扰专业委员会第十二届学术会议(‘12EMI’)

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 233-239

在线出版日期: 2012-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）