光谱法测量纳晶电极的平带电位

摘要：

　　半导体的平带电位是表征半导体/溶液界面性能的重要参数，准确测量平带电位对于光电化学，光催化和染料敏化电池的研究具有重要意义。Mott-Schottky方法(电容-电位曲线)是常用的平带电位测量方法，但在纳晶电极体系中由于没有空间电荷层的存在，人们对于Mott-Schottky方法测量平带电位存在疑问。本文中我们拟用光谱法进行平带电位的测量。

关键词： 光谱法 平带电位 纳晶电极 测量原理 半导体

作者: 解东梅 林原

作者单位: 中国科学院化学研究所 北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国太阳能光化学与光催化学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 33-33

在线出版日期: 2012-10-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）