基于荧光成像系统小麦病害叶片异质性分析
为了探讨小麦白粉病叶片快速光曲线变化特征以及两种选取(AOI)模式间异质性,在小麦白粉病试验区,基于荧光成像系统开展荧光诱导参数和快速光曲线测定与拟合。结果表明,相对电子传递速率rETR随叶片病害等级加重呈下降趋势,以矩形模式的rTR相对较低,其中,rETR下降主要受吸光系数Abs的降低影响。快速光曲线拟合参数中最大潜在相对电子传递速率、初始斜率、光抑制参数和半饱和光强随病害等级的加重呈下降趋势,两种选取模式间拟合参数的异质性反映了叶片荧光特征的“临界状态”,重度(80％)病害叶片不仅对光的捕获能力较低,对强光的忍耐性也偏低,极易造成光抑制。利用快速光曲线的斜率方程可以直观地反映rETR随光合有效辐射PAR的动态变化过程。
荧光成像系统 小麦 白粉病 快速光曲线 异质性 小麦病害
杜世州 曹承富 袁琳 廖钦洪
安徽省农业科学院作物所,合肥230031;国家农业信息化工程技术研究中心,北京100097 安徽省农业科学院作物所,合肥230031 国家农业信息化工程技术研究中心,北京100097
国内会议
北京
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551-556
2012-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）