X荧光光谱法快速测定硅锰合金中硅、锰、磷

摘要：

　　采用粉末压片法制作试样,国家标准样品及日常分析样品混合建立工作曲线,用X荧光光谱法,完成一个试样的大分析只需约5 min,分析值准确、可靠,完全满足硅锰合金进出厂分析的质量控制。

关键词： 粉末压片 工作曲线 X荧光光谱 硅锰合金

作者: 沈奇 刘久平 李刚 张华 李建军

作者单位: 山钢集团淄博张店钢铁总厂,淄博 255007

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国理化测试学术研讨会暨《理化检验》创刊50周年大会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 256-258

在线出版日期: 2012-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）