覆膜浸渍钡钨阴极离子斑扫描电镜分析
采用扫描电镜及X射线能谱仪对覆膜阴极的离子斑进行了分析。分析表明,阴极离子斑中心部分表面粗糙,原覆膜(Os膜)已被完全溅射掉,裸露出的钨颗粒相互间的连接变得十分松散;离子斑周边原覆膜(Os膜)仍保留一部分,但Ba和O的含量极低。进一步分析表明,离子轰击不仅使离子斑区域贵金属膜受损,同时使该区域Ba-O键的含量大幅度降低,从而导致该区域及整个阴极的发射出现明显下降。
覆膜浸渍 钡钨阴极 离子斑 扫描电镜 蒸发 阴极发射
阴生毅 张洪来 张永清
中国科学院电子学研究所微波器件与技术研究发展中心
国内会议
北京
中文
411-413
2006-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)