六氟化钨中杂质含量的测定

摘要：

　　介绍了一种利用氦离子化检测器( PDHID)、傅立叶红外光谱检测器(FTIR)分析六氟化钨中微量四氟化碳、氧+氩、氮、二氧化碳、一氧化碳、四氟化硅、六氟化硫、氟化氢的方法。经过方法验证证明，该方法能够达到较高的准确度和精密度。

关键词： 六氟化钨 杂质含量 检测技术 氦离子化检测器 傅立叶红外光谱检测器

作者: ZHENG Qiuyan 郑秋艳 WANG Shaobo 王少波 LI Xiangyu 李翔宇 ZHUANG Hongtac 庄鸿涛 YANG Kang 杨康 FANG Hua 方华 ZHOU Pengyun 周朋云

作者单位: The 718th Research Institute of CSIC,Handan 056027,China 中国船舶重工集团公司第七一八研究所,河北邯郸056027 Shanghai Huaai Chromatography Analysis Co.,Ltd.,Shanghai 200437,China 上海华爱色谱分析技术有限公司,上海200437 Southwest Research & Design Institute of Chemical Industry,Chengdu 610225,China 西南化工研究设计院,成都610225

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国特种气体第十六次年会

会议地点: 广西北海

会议语种:中文

页码: 135-140

在线出版日期: 2012-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）