会议专题

氧化锌压敏电阻老化机理再探索

  本文在已有的压敏电阻老化机理的基础上,作了进一步的假设,提出另外两个老化因素。一个是在高电场下晶界的逆压电效应和电致伸缩效应的不可逆部分,另一个是大电流冲击下晶界温度骤升骤降引起的热冲击。

老化机理 电致伸缩 应变不可逆 晶界热冲击 滞后效应 氧化锌 压敏电阻

张俊峰 夏波 孙丹峰

陕西华星压敏电阻器厂 陕西咸阳 712099 苏州电通电力电子有限公司 苏州 215001

国内会议

中国电子学会敏感技术分会第十六届电压敏学术年会

昆明

中文

68-73

2009-10-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)