氧化锌压敏电阻老化机理再探索

本文在已有的压敏电阻老化机理的基础上,作了进一步的假设,提出另外两个老化因素。一个是在高电场下晶界的逆压电效应和电致伸缩效应的不可逆部分,另一个是大电流冲击下晶界温度骤升骤降引起的热冲击。
老化机理 电致伸缩 应变不可逆 晶界热冲击 滞后效应 氧化锌 压敏电阻
张俊峰 夏波 孙丹峰
陕西华星压敏电阻器厂 陕西咸阳 712099 苏州电通电力电子有限公司 苏州 215001
国内会议
昆明
中文
68-73
2009-10-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)