氧化锌压敏电阻的老化机理

摘要：

　　从氧化锌压敏电组U-I特性、介电特性以及热激发电流(TSC)，综述了压敏电阻直流电压和交流电压作用引起的老化现象。氧化锌压敏电阻的老化，归因于晶粒边界区中耗尽层中填隙锌离子Zn的扩散，由同时施加的电压和温度引起的。当耗尽层中的填隙锌通过加热退火处理永久地扩展出来，压敏电阻的稳定性得以改善。文章综述了氧化锌压敏电阻的老化现象，老化原因，老化机理和老化的预防方法。

关键词： 氧化锌压敏电阻 老化机理 预防方法

作者: 孙丹峰 季幼章

作者单位: 中国科学院等离子体物理研究所博士 中国科学院等离子体物理研究所,合肥,230031

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会第十五届电压敏学术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 115-124

在线出版日期: 2008-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）