Cu元素对氧化锌压敏电阻性能的影响

摘要：

　　本研究在中压压敏电阻基础料中添加Cu(NO3)2溶液的方式引入杂质元素Cu,通过样品的电性能来推导其影响机理,最后得出中压压敏电阻中Cu元素的临界含量(质量分数)为8×10-6。

关键词： 压敏元件 氧化锌电阻 Cu元素掺加 晶粒电阻率

作者: 洪俊伟 章来平 邴绍同 孙丹峰

作者单位: 江苏省净化工程技术研究中心,江苏苏州,215011 苏州中普电子有限公司,江苏苏州,215011

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会第十四届电压敏学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 68-72

在线出版日期: 2007-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）