会议专题

陶瓷-金属封接缺陷--瓷件“光板”原因的探讨

采用金相、扫描电镜、能谱等分析手段,对陶瓷-金属封接的严重缺陷--瓷件“光板”的产生原因进行了分析、探讨,并提出防止光板缺陷的措施。结果表明:焊料向金属化层的严重渗透以及金属化层玻璃相的缺少,均是导致光板的主要原因。通过改进金属化工艺,保证致密的金属化层显微结构,防止焊料渗透,可以避免光板缺陷。

Metallizing Moly-manganese No adhesive ceramic Microstructure

王晓宁 何晓梅 李久安 江树儒

北京真空技术研究所,北京,100015

国内会议

真空电子与专用金属材料、陶瓷-金属封接第十二届技术研讨会

济南

中文

28-33

2012-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)