基于SOC的级联式存储测试系统构架技术研究

摘要：

　　为研发加速度存储记录仪设计了系统构架结构。采用低功耗、四通道、16位500ksps、电荷再分布式高速加转换器AD7654，及FRAM存储器M28W640结合C8051F340SOC片上系统的结构，设计非易失性存储模块和A／D转换接口电路，并通过工作时序分析给出AD中断服务程序。此构架技术研究对同类系统设计具有一定参考价值。

关键词： 片上系统 存储测试仪 体系架构 程序设计

作者: 张毅 申川

作者单位: 中国工程物理研究院总体工程研究所，四川 绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国信号和智能信息处理与应用学术会议

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 475-478

在线出版日期: 2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）