XRD 法快速测定铝电解质成分和分子比的应用探讨

摘要：

作者提出了一种全新测定铝电解质成分方法XRD 法即X 射线衍射法。采用X 射线衍射仪在 3 分钟时间内，可以准确的测定出铝电解质中的冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化锂、氟 化钾、游离氟化钠、游离氟化铝等含量大于0.5％物相，并根据各物相的成分含量，计算出指导铝电 解生产的分子比。为了此方法的应用推广，研制了一套适合测定上述成分的铝电解质标准样品。

关键词： 铝电解质 成分 分子比 应用

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012河南省有色金属学术年会

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 1-6

在线出版日期: 2012-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）