稀释、直读光谱仪直接测定高硅合金中的硅

摘要：

本文是提供一种高硅铝合金中杂质元素的光谱分析.通过将高硅铝硅合金试样用纯铝试样在高温马弗炉中稀释后,将硅降至13％以下,利用直读光谱对应的工作曲线进行分析,并利用质量守恒定律计算出高硅合金中硅的含量,保证了产品的质量.

关键词： 稀释 直读光谱仪 质量守恒定律

作者: 汪利锋

作者单位: 河南永登铝业有限公司,河南,登封,452470

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012河南省有色金属学术年会

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 1-3

在线出版日期: 2012-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）