基于正交试验的VQFN器件工艺参数优化
将正交试验设计方法同有限元数值模拟相结合，针对电子封装中常用的Die的厚度、Die的CTE以及EMC的CTE三种影响因素，研究了他们对回流焊过程产品性能的影响。以两圈VQFN器件为研究对象，以回流焊过程中发生的翘曲为优化目标，运用正交试验方法进行有限元仿真计算的方案设计，得到了不同参数组合情况下的器件翘曲情况。通过对计算结果进行方差等分析，找出了最优的工艺参数组合，为电子封装中产品性能的优化提供了一种方法。
电子封装 工艺参数优化 正交试验 数值模拟
武伟 夏国锋 高察 秦飞
北京工业大学机械工程与应用电子技术学院力学系，北京100124
国内会议
北京
中文
583-584
2012-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）