超细钨丝局部减径技术研究

摘要：

　　Z-pinch物理实验已提出了调节钨丝局部质量的要求，即：提出了通过调节轴向方向上微区(百微米级别)的直径实现微丝的局部可控减径的要求。通常Z-pinch实验常用到3～6μm超细钨丝，该材料通过连续抛光方法制备。实验证明，电解抛光是实现微丝减径的较好方法，但局部的减径技术尚需探索。

关键词： 超细钨丝 局部质量 电解抛光技术 电解参数

作者: 刘旭东 周秀文 杨波 钟华 余斌 朱晔

作者单位: 中国工程物理研究院激光聚交研究中心 四川绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国核靶技术学术交流会

会议地点: 云南腾冲

会议语种:中文

页码: 49-50

在线出版日期: 2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）