加速器质谱测量用NH4Hf2F9的制备及表征
182Hf半衰期为(8.9±0.09)×106年，仅存在深海沉积物中或某些陨石中，且含量极为稀少，通过常规的测量放射性法或普通质谱法都难以实现对其高灵敏测量。加速器质谱(AMS)方法具有排除同量异位素本底和分子离子干扰的能力，具有极高的测量灵敏度(同位素原子数之比达到10-15)，成为测量环境样品中182Hf的理想方法。制备含Hf和F的化合物是AMS测量182Hf的关键问题之一。本课题组中曾报道了多相合成法制备可用于AMS测量的NH4Hff5，本文拟采用多相合成法探讨备选的含Hf和F的化合物——NH4Hf2F9的制备。
加速器质谱法 多相合成法 制备工艺 性能分析
姜涛 杨君 杨亮 何玉晖
中国工程物理研究院核物理与化学研究所 四川绵阳 621900
国内会议
云南腾冲
中文
87-88
2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）