碱性电解液体系下铝箔表面粗糙度控制技术

摘要：

　　美国已采用了利用超细铝箔作为负载的Z-pillch物理实验，获得了较好的实验结果。实验结果表明，此种物理负载可作为丝阵负载的重要补充。由于铝箔负载的表面粗糙度大小直接影响着物理实验中的RT不稳定性的抑制，因此需将其粗糙度控制在较低等级(约50nm左右)。实验选用了机械抛光和电化学抛光法进行，以期进一步降低铝箔表面的粗糙度。目前针对降低超薄铝箔表面粗糙度的研究尚未成体系。

关键词： 铝箔 表面粗糙度 控制技术 电化学抛光法

作者: 刘旭东 钟华 杨波 余斌 朱晔 周秀文

作者单位: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 四川绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国核靶技术学术交流会

会议地点: 云南腾冲

会议语种:中文

页码: 89-90

在线出版日期: 2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）