基于FPGA的光学形貌测量系统设计
数字投影条纹形貌测量方法具有非接触、全场性、测量精度高等优点，能实时检测物体表面形貌的演化过程。而现场可编程门阵列(FPGA)是在可编程阵列(PAL)、通用阵列逻辑(GAL)和复杂可编程逻辑器件(CPLD)基础上进一步发展的产物，具有集成度高、编程灵活和设计周期短等特点而广泛应用。本文对基于FPGA 的数字投影条纹形貌测量方法进行了系统设计，在介绍了形貌测量的基本原理和系统集成原理的基础上，分析了FPGA 对采集模块、投影模块、存储模块和显示模块的支持作用，并详细给出了FPGA 控制模块的设计方案。通过FPGA 系统集成设计，可提高系统的投影和采集速率，为建成同步投影与采集、自动实时存储、处理与显示的光学形貌测量系统奠定了硬件基础。
现场可编程门阵列 投影条纹形貌测量 硬件设计 程序控制 轻质复合材料 屈曲失稳现象
付敏瑞 雷振坤 张大力
工业装备结构分析国家重点实验室,大连理工大学工程力学系,大连116024
国内会议
哈尔滨
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2011-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）