菱面体畸变的钙钛矿结构多铁性氧化物薄膜畴界精细结构

摘要：

　　畴是所有铁性材料的一个共同本质特性，畴及畴界的结构极大影响着材料性能。本文应用高分辨透射电子显微学和定量电子显微学，在原子尺度定量研究了钙钛矿菱面体结构多铁性薄膜BiFeO3的109°畴界的精细结构，包括畴界附近阳离子位移及局部铁电极化分布。结果表明，正是由于畴界附进原子发生微小位移，导致材料能带的变化，带隙减小，从而在绝缘BiFeO3中产生独特的导电性能。这不仅为研究铁电极化反转和磁电效应等科学问题提供关键的定量结构信息，同时也促进相关材料的设计和性能优化。

关键词： 钙钛矿菱面体结构 多铁性薄膜 畴界结构 铁电极化分布 导电性能

作者: 詹倩 于荣 Y.H. Chu H.M.Zheng S.P. Crane R.Ramesh

作者单位: 北京科技大学材料科学与工程学院，北京 100083 清华大学材料系北京电镜中心，北京 100084 Department of Materials Science and Engineering, University of California, Berkeley,Colifornia 94720

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国材料研讨会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 1-8

在线出版日期: 2010-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）