超大规模集成电路可测性设计技术概览

摘要：

　　针对当前集成电路的复杂程度和测试难度持续提高的趋势，为了实现高效的测试和诊断，实施可测性设计成了必然的技术趋势。本文综述了有关大规模集成电路测试与可测性设计的国际标准与规约，指出了它们的应用范围和技术要点。

关键词： 超大规模集成电路 可测性设计 故障诊断 技术标准

作者: 杨平勇 谢永乐

作者单位: 电子科技大学 自动化工程学院,成都 610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国半导体集成电路、硅材料学术会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 399-402

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）