混合电路失效的工艺与环境因素
介绍了混合电路中存在的各种失效模式，分析了工艺中产生失效的原因，提出了改进建议。列举了不同工作环境条件下影响混合电路可靠性的环境因素，在对混合电路失效信息进行全面统计的基础上，总结了机载、舰载和地面环境晓下的失效模式与失效机理。典型案例的失效分析表明，在振动环境下二极管芯片破裂，产生的不稳定漏电使输出电压异常，导致后续电路损坏。
混合电路 失效分析 加工工艺 环境效应
章晓文 何小琦 恩云飞
信息产业部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及应用技术国家级重点实验室 广东 广州 510610
国内会议
重庆
中文
435-439
2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）