TF SOI nLIGBT漂移区表面堆积状态小注入间接复合寿命模型及模拟
为探讨表面复合对TF SOI nLIGBT开关特性的影响,在Si-SiO2界面态连续分布多项式插值近似的平带条件下,TF SOI nLIGBT漂移区表面小注入间接复合寿命模型及模拟研究的基础上,考虑表面堆积状态下能带向下弯曲对界面态分布的影响,建立了堆积状态下TF SOI nLIGBT漂移区表面小注入间接复合寿命模型,然后采用基于Matlab平台的循环嵌套矩阵算法进行模拟。
TF SOI nLIGBT器件 电子传递 数值模拟 循环嵌套矩阵算法
张海鹏 张鸣飞 程筱军
杭州电子科技大学 电子信息学院,杭州 310018
国内会议
重庆
中文
682-685
2007-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)