二次靶偏振激发能量色散XRF荧光仪测定铁矿石中硫

摘要：

　　本文提出了用粉末压片法、以二次靶偏振激发能量色散XRF荧光仪测定铁矿石中硫的新方法。借助C-S 800仪器分析日常铁矿石定值样为参考校正标准样，以抵消铁矿石颗粒度、矿物组成差异影响。对含硫量在0.5%～2.5%的铁矿石分析获得满意结果，目前国内还没见到类似文献报道。

关键词： 铁矿石 硫元素 粉末压片法 二次靶偏振 能量色散

作者: 白福全 连俊峰 王再田 丁慧 宁国东 张梅

作者单位: 中国兵器工业集团五二研究所理化检测中心，包头 014034 二连浩特出入境检验检疫局，二连浩特 011100

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国高速分析学术交流会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 63-67

在线出版日期: 2012-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）