归一化校正-偏振X射线能量色散荧光光度法测定萤石矿中各组分含量

摘要：

　　提出了直接粉末压片法，忽略CaCO3对测量CaF2影响，用偏振X射线能量色散荧光光度法测量萤石矿中CaF2、SiO2、Fe2O3、K2O、S和P等组分。根据分析组分加和值进行归一化校正计算，得出同化学分析十分接近结果。对CaCO3、S含量比较高的萤石矿未知样分析，采用文献推荐C-S联合测定法进行修正。对有关归一化校正、计算的条件限制作了说明。

关键词： 萤石矿 二氧化硅 三氧化二铁 偏振X射线能量色散荧光光度法 归一化校正

作者: 白福全 丁慧 张梅 王再田 宁国东 连俊峰

作者单位: 中国兵器工业集团五二研究所理化检测中心，包头 014034 二连浩特出入境检验检疫局，二连浩特 011100

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国高速分析学术交流会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 84-87,89

在线出版日期: 2012-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）