液晶面板Black-Gap不良的分析研究

摘要：

　　在TFT-LCD生产过程中，Black-gap不良是影响产品品质的一项常见的缺陷，造成此类不良出现的原因多种多样，给解析带来较多困难。本文利用盒厚测试仪(RETS-4600)、3D显微镜、硬度测试仪等设备对Black-gap不良进行了深入解析，对其发生的机理及改善方案进行了分析探讨。测试结果显示，Black-gap不良的直接原因是由面板受压导致盒厚不均造成,但其本质是由阵列基板设计，隔垫物的材料性能，以及成盒工艺等一系列原因造成。

关键词： 液晶显示屏设备 画面不良现象 故障分析 隔垫物 弹性恢复率 工艺优化

作者: 封宾 林鸿涛 王章涛 崔晓鹏 邵喜斌

作者单位: 北京京东方显示技术有限公司，北京，100176

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012中国平板显示学术会议

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 247-250

在线出版日期: 2012-05-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）