X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖的主次成分

摘要：

　　利用高温熔融制备硅石、硅砖样品，应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线，研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例，脱膜剂加入量对制样重现性的影响，探讨了采用差量法计算所得的结果的准确性。试验结果表明：该方法的测定值与标准认定值一致，相对标准偏差小于5%，满足了硅石中常见组分快速分析的要求。

关键词： 冶金行业 硅质耐火材料 X射线荧光光谱法 成分分析

作者: 王一凌 曲月华 杨丽荣 王铁

作者单位: 鞍钢股份公司技术中心，辽宁 鞍山 114001

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国冶金物理测试网建网30周年学术研讨会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 161-164

在线出版日期: 2011-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）