单丝及多丝Z箍缩的X射线背光成像
基于X箍缩软X射线辐射点源对单丝及多丝Z箍缩发展过程进行了背光成像研究，实验平台为清华大学电机系研制的脉冲功率装置PPG-I(500 kV／400kA／lOO ns)。成像光路安排为：作为X射线源的X箍缩和作为目标物的单丝或多丝(双丝)Z箍缩分别安装在装置的输出主电极阴阳极之间或网流导电杆处，成像胶片采用高分辨力、高灵敏度的X射线胶片。利用自行设计的电流传感器和罗氏线圈对目标物实际流过的电流进行监测。为了测定目标物金属细丝的质量消融率，设计了μm级厚度的阶梯光楔。通过大量成像实验，获取了Z箍缩等离子体融合、先驱等离子体形成及不稳定性发展等过程的相关物理图像以及质量消融率、丝芯膨胀率等重要定量参数。
Z箍缩 X射线背光照相 丝芯膨胀率 质量消融率 等离子体
朱鑫磊 张然 罗海云 赵屾 邹晓兵 王新新
华大学电机工程与应用电子技术系，北京 100084
国内会议
西安
中文
539-543
2011-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）