用于高能X射线能谱测量的MLS法
为满足高能X射线能谱测量的需要,提出采用MLS法进行能谱测量的方案。MLS法克服了其他测量方法散射不易控制、光场不均匀性影响较大的缺点,还具有对不同角度能谱进行测量的优势。对MLS法的测量原理以及测量过程中的注意事项进行了明确,并利用蒙特卡罗方法针对一特定的X射线能谱设计了两种不同介质的测量装置,并将测量装置自身散射的影响控制在5%以内。
脉冲X射线 能谱测量 算法优化 介质散射 控制对策
陈楠 荆晓兵 高峰 章林文 阴泽杰 李世平
中国工程物理研究院流体物理研究所,四川绵阳 621900 中国科学技术大学近代物理系,合肥 230026
国内会议
西安
中文
785-788
2011-09-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)