高场强下金属化膜电容器绝缘电阻特性
分析了高电场强度下金属化膜电容器绝缘电阻的特点，得出高电场强度下金属化膜电容器绝缘电阻是电容器介质膜泄漏和自愈过程的综合反映。针对高场强下的应用条件提出一种金属化膜电容器绝缘电阻的测试方法，并对高场强下电容器的绝缘电阻进行测试。测试结果表明：在300～400 V／μm工作场强范围内金属化膜电容器绝缘电阻随工作场强增大会急剧减小，由于自愈的作用。绝缘电阻下降幅度随场强增加会逐渐变缓；在20～50℃工作温度范围内，金属化膜电容器绝缘电阻随温度升高会急剧减小。同样由于自愈的作用，绝缘电阻下降幅度随温度增高会逐渐变缓。分析得出，高温高场强下金属化膜电容器介质膜泄漏将会导致电容器电压出现明显下降，影响电容器和脉冲功率系统的储能效率。
金属化膜电容器 绝缘电阻 泄露电流 自愈作用
陈耀红 章妙 李化 林福昌 李智威 吕霏 刘德
华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室,武汉 430074
国内会议
西安
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797-800
2011-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）