基于逐次逼近的可编程模拟阵列自校准方法

摘要：

　　输入失调校准技术是现场可编程模拟阵列的关键技术之一。根据可编程模拟阵列的结构特点，基于逐次逼近原理，提出一种现场可编程模拟阵列输入失调自动校准算法。该算法不仅可以校正电路因器件失配、工艺偏差引起的失调，还可校准因时间或温度因素引起的电路失调。可编程模拟阵列采用0.35μmCMOS+EEPROM工艺实现。测试结果表明，校准后的输入失调电压小于75μV，平均校准时间小于300ms。

关键词： 现场可编程模拟阵列 失调控制 自校准算法 逐次逼近原理

作者: 刘智 刘欧子 于洪波 关甲佳

作者单位: 西安微电子技术研究所,西安 710054 西北工业大学,西安 710072

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议

会议地点: 三亚

会议语种:中文

页码: 25-28

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）