双极型模拟集成电路抗辐射加固技术

摘要：

　　介绍了辐射环境下影响双极型模拟集成电路可靠性的主要因素，揭示了双极型模拟集成电路抗辐射加固研究工作的重要性和紧迫性。通过对设计、工艺、原材料和元器件等方面采取对策和措施，达到提高双极型模拟集成电路抗辐射加固能力的目的。

关键词： 武器装备 双板型集成电路 可靠性分析 失效模式 辐射效应 辐射加固

作者: 李晓红 罗俊 邓永芳 胡波

作者单位: 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议

会议地点: 三亚

会议语种:中文

页码: 335-337

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）