半导体集成电路贮存寿命加速试验技术

摘要：

　　军用半导体集成电路必须满足长期贮存、随时可用和能用的要求。加速贮存寿命试验作为可靠性试验的一个重要组成部分，是评价，控制、提高集成电路贮存寿命的常用方法。简要介绍了加速贮存寿命试验的概念及方法，从实际操作角度比较了各种方法的优点、缺点，并对其应用情况做了介绍。

关键词： 军用电子设备 半导体集成电路 加速贮存试验 贮存寿命 可靠性分析

作者: 胡波 罗俊 秦国林 李晓红 邓永芳

作者单位: 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060 西安电子科技大学微电子学院,西安 710071 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议

会议地点: 三亚

会议语种:中文

页码: 338-342

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）