DD6单晶叶片射线检测中常见疑似缺陷显示的试验研究

摘要：

　　针对DD6单晶叶片射线检测底片上出现的一些疑似缺陷，作者从理论分析和具体实验两方面进行了研究。从叶片的材料性能和铸造角度分析，DD6单晶叶片可能存在孔洞类的内部冶金缺陷。而设计的具体实验则是将收集的11片叶片样品进行解剖，并将断面与其射线底片进行对比，得出结论：这些疑似缺陷并不是金属内部冶金缺陷，而是表面缺陷。

关键词： 高温合金 射线底片 射线检测 缺陷分析

作者: 刘庆珍

作者单位: 北京航空材料研究院,100095

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届先进材料技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 176-178

在线出版日期: 2011-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）