一种能有效降低Memory BIST功耗的方法

摘要：

　　随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-in self—test)的广泛应用，对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高，因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多，而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率。通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗。实验仿真结果表明，用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14，可见该方法能有效降低测试时的能量损耗。

关键词： 嵌人式Memory BIST 串并结合 测试功耗 时钟域

作者: 袁秋香 方粮 李少青 刘蓬侠 余金山 徐长明

作者单位: 国防科学技术大学计算机学院并行与分布重点实验室 长沙 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年第17届全国信息存储技术大会(IST 2011)

会议地点: 济南

会议语种:中文

页码: 94-98

在线出版日期: 2011-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）