单粒子效应误差注入仿真技术研究

摘要：

　　基于SRAM基础的FPGA器件在空间科技领域越来越受到人们的关注，但是其很容易受到单粒子翻转(SEU)效应的影响，在分析了抗SEU加固的基础上，提出了一种基于FPGA的单粒子效应误差注入仿真技术，以验证FPGA器件在辐照情况下的可靠性。

关键词： 单粒子效应 抗单粒子辐射加固 误差注入 系统结果 仿真分析

作者: 徐飞 王巍

作者单位: 天津工业大学信息与通信工程学院,天津 300160 天津工业大学电气工程与自动化学院,天津 300160

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届信号和智能信息处理与应用学术会议

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 47-49

在线出版日期: 2011-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）