边界扫描技术及其在芯片测试中的应用

摘要：

　　随着集成电路规模的不断增大，芯片的可测性设计正变得越来越重要。本文介绍了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构，并给出了边界扫描技术的在芯片测试中的应用范围，最后结合自动测试设备，提出了边界扫描技术用于芯片测试的方法。

关键词： 边界扫描技术 工作方式 芯片测试 集成电路

作者: 王子云

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川 绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十五届学术年会

会议地点: 景德镇

会议语种:中文

页码: 64-69

在线出版日期: 2011-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）