基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定方法研究

摘要：

　　基于实验室X射线衍射仪，利用其运行稳定性和高精度角度控制能力，制作了晶体样品架，给出了对X光平面晶体的本征参数晶格常数2d和积分衍射效率Rc进行实验标定的方法，并给出了其不确定度。该方法既快速又高效，且十分方便，是晶体同步辐射精确参数实验标定的有力补充。

关键词： X光晶体 标定方法 X射线衍射仪 积分衍射效率 晶格常数

作者: 李军 韦敏习 杨国洪 侯立飞 易涛 刘慎业

作者单位: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 四川 绵阳 621900 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 四川 绵阳 21900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十五届学术年会

会议地点: 景德镇

会议语种:中文

页码: 84-88

在线出版日期: 2011-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）