La1-xSrxMnO3空间热控薄膜的发射率-温度特性

摘要：

　　La1-xSrMnO3空间热控薄膜的主要性能为其在不同温度下的发射率变化情况，为了表征制备的La1-xSrxMnO3薄膜的变温发射率性能，采用稳态卡计法进行变温发射率的测试，研究了不同掺杂含量、不同膜层厚度La1-xSrxMnO3薄膜的发射率-温特性，测试结果表明，稳态卡计法能够有效对La1-xSrxMnO3空间热控薄膜的相变情况进行测试，制备的La1-xSrxMnO3薄膜发射率变化量在140K范围内达到0.261。

关键词： La1-xSrMnO3空间热控薄膜 变温发射率 发射率-温度特性 稳态卡计法

作者: 王洁冰 吴春华 谢二庆 许旻 李林 赵印中

作者单位: 兰州空间技术物理研究所,表面工程技术重点实验室,甘肃,兰州,730000 兰州大学,物理学院,甘肃,兰州,730000 兰州空间技术物理研究所,表面工程技术重点实验室,甘肃,兰州,730000 兰州大学,物理学院,甘肃,兰州,730000

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届空间材料及其应用技术学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 17-19

在线出版日期: 2011-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）